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智能型开关综合测试仪/低价销售采用高性能数字信号处理器（DSP）和超大规模集成电路芯片（VLSI）。提供强大的运算处理能力。多采集通道。装置有3路行程测量，7路断口测量，可同时3路行程测量。

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高压开关综合测试仪技术参数采用高性能数字信号处理器（DSP）和超大规模集成电路芯片（VLSI）。提供强大的运算处理能力。多采集通道。装置有3路行程测量，7路断口测量，可同时3路行程测量。

开关特性测试仪/GKC-F采用高性能数字信号处理器（DSP）和超大规模集成电路芯片（VLSI）。提供强大的运算处理能力。多采集通道。装置有3路行程测量，7路断口测量，可同时3路行程测量。

专业制造开关特性测试仪采用高性能数字信号处理器（DSP）和超大规模集成电路芯片（VLSI）。提供强大的运算处理能力。多采集通道。装置有3路行程测量，7路断口测量，可同时3路行程测量。

断路器开关特性测试仪/JY-*采用高性能数字信号处理器（DSP）和超大规模集成电路芯片（VLSI）。提供强大的运算处理能力。多采集通道。装置有3路行程测量，7路断口测量，可同时3路行程测量。

断路器开关特性测试仪现货采用高性能数字信号处理器（DSP）和超大规模集成电路芯片（VLSI）。提供强大的运算处理能力。多采集通道。装置有3路行程测量，7路断口测量，可同时3路行程测量。